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首頁(yè) 資料 / 應(yīng)用 無(wú)鉛兼容電路板的成圖分析

無(wú)鉛兼容電路板的成圖分析

2020-11-03

自從歐盟實(shí)施RoHS(電子電氣設(shè)備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令)環(huán)境法規(guī)以來(lái),電子電器行業(yè)的有害元素分析變得越來(lái)越重要。X射線(xiàn)熒光光譜能夠簡(jiǎn)單、快速、無(wú)損的分析固體、粉末、液體樣品,被廣泛用作篩選方法。

用能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀(EDX)測(cè)定無(wú)鉛兼容印刷電路板,通過(guò)成圖分析檢出鉛后,還可以確定檢出位置。


 

X-Ray Fluorescence Spectrometer (EDX-GP)

This instrument irradiates the foreign matter with X-rays and measures the energy of the generated fluorescent X-rays to determine the type and content of the elements comprising the foreign matter. It is extremely effective for the rapid and easy identification of metals and other inorganic substances.