直徑

借助三維成像技術(shù)進(jìn)行測(cè)量

掃描探針顯微鏡（SPM）利用顯微鏡探針掃描樣品表面，可給出高放大倍數(shù)的三維觀(guān)測(cè)結(jié)果。掃描探針顯微鏡分辨率高，僅次于透射式電子顯微鏡。顯微鏡垂直圖像時(shí)，分辨率良好。單個(gè)納米管（CNT）直徑可借助高度進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。

圖表表示單壁碳納米管（SWNTs）的測(cè)量數(shù)據(jù)。碳納米管頂點(diǎn)和左手側(cè)的云母測(cè)量點(diǎn)用紅色x標(biāo)記。在橫斷面圖中，這些位置均用紅線(xiàn)表示。在不同測(cè)量位置，可見(jiàn)的單壁碳納米管直徑為1.72 nm和1.3 nm。
可借助拉曼測(cè)量值觀(guān)察平均值。

（材料提供方：名古屋大學(xué)自然科學(xué)研究院筱原研究實(shí)驗(yàn)室）

直徑1.72 nm
 

直徑1.3 nm
 

掃描探針顯微鏡

掃描探針顯微鏡（SPM）利用顯微鏡探針掃描樣品表面，可給出高放大倍數(shù)的三維觀(guān)測(cè)結(jié)果。此顯微鏡可實(shí)現(xiàn)nm級(jí)觀(guān)測(cè)，并可在氣體或溶液中測(cè)量固體和膜表面形狀。